贺朝会

纳米级系统芯片单粒子效应研究.pdf

本书主要介绍28nm系统芯片(SoC)的单粒子效应,内容包括 SoC单粒子效应研究现状与测试系统的研制,SoC的α粒子、重离子、质子和中子单粒子效应实验研究,SoC单粒子效应软件故障注入、模拟故障注入、软错误故障分析、故障诊断和SoC抗单粒子效应软件加固方法研究;提出Xilinx