压接型IGBT器件封装可靠性建模与测评 李辉等 著.pdf 压接型IGBT器件封装老化失效的可靠性测评对柔性直流输电装备安全稳定运行至关重要。围绕压接型IGBT器件老化失效模拟与可靠性测评，本书系统介绍了压接型IGBT器件的发展趋势与封装可靠性研究现状，总结了压接型IGBT器件不同封装结构与失效模式，提出了压接型IGBT器件多物理场建模与 叁号仓库 2024年02月20日 0 点赞 0 评论 6479 浏览
