郝跃

微纳米MOS器件可靠性与失效机理.pdf

本书主要介绍了微纳米MOS器件的失效机理与可靠性理论,目的是在微电子器件可靠性理论和微电子器件的设计与应用之间建立联系,阐述微纳米MOS器件的主要可靠性问题和系统的解决方法。

碳化硅宽带隙半导体技术.pdf

本书介绍了碳化硅宽带隙半导体的基本性质,晶体及薄膜生长技术,器件工艺以及在高温、高频、大功率器件等领域的应用,同时也对金刚石以及CaN基Ⅲ-Ⅴ族氮化物半导体作了简单介绍。