- 作者:R.R.特劳特曼
- ISBN:7030048571
- 出版社:科学出版社
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CMOS技术已成为微电子技术中的主导技术,而闩锁效应一直是影响CMOS器件可靠性的严重问题.本书是第一本有关闩锁问题的专著.全书可分为三部分.内容包括闩锁问题结构上的起因、各种触发方式及其分类;PNPN结构的集总元件模型、闩锁判据、安全工作区、传输线模型,以及闩锁特性的测量和如何
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